Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elib.osu.ru/handle/123456789/8289
Название: Высокоразрешающая сканирующая электронная микроскопия плазменных покрытий
Авторы: Рудаков, В. И.
Гребенюк, В. Ф.
Алиджанов, Э. К.
Ключевые слова: вакуумные ионно-плазменные покрытия
обработка металлов
микрорентгеновский спектральный анализ
электронная микроскопия
композиционные покрытия
Дата публикации: 2003
Аннотация: В настоящей работе представлена информация о структуре и элементном составе вакуумных ионно-плазменных покрытий, сформированных на основе нитридов тугоплавких металлов. Исследования проводились методами растровой электронной и сканирующей туннельной микроскопии. Элементный состав покрытий определялся методом микрорентгеновского спектрального анализа.
URI: http://elib.osu.ru/handle/123456789/8289
Располагается в коллекциях:Публикации сотрудников

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
4.pdf1,1 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.